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2021年5月28日，“2021模具加工高端技術(shù)論壇”在西安圓滿落幕。思瑞測量CROMA PLUS亮相本次技術(shù)論壇，因其解決曲面檢測難題的技術(shù)特性成為現(xiàn)場關(guān)注焦點，吸引眾多來賓咨詢了解。
此次展示的三坐標(biāo)機型是CROMA PLUS，搭載?？怂箍蹈咝阅芸刂葡到y(tǒng)，可以實現(xiàn)連續(xù)掃描采樣，通過RATIONAL DMIS專業(yè)的BLADE模塊，將掃描得到的樣本按照葉片的需求進行專業(yè)的分析。
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在以前，復(fù)雜曲面的檢測是個難題。測點太多，傳統(tǒng)三坐標(biāo)難以測量，容易造成效率低、數(shù)據(jù)不全面的后果。思瑞CROMA PLUS三坐標(biāo)測量儀通過接觸式連續(xù)掃描，數(shù)秒即可完成千個點位采集，效率提升數(shù)倍，將效率、精度、數(shù)據(jù)的采集及分析都達到了一個新的高度。
思瑞全新CROMA PLUS三坐標(biāo)測量儀，因其高效率、高精度的特性廣受市場好評。同時思瑞測量針對市場需求的變化不斷優(yōu)化三坐標(biāo)測量機測量方案，助力制造企業(yè)提質(zhì)增效，幫助客戶創(chuàng)造更大的價值。
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