眾所周知，接觸式測(cè)頭是三坐標(biāo)測(cè)量時(shí)常見(jiàn)的標(biāo)準(zhǔn)配件，而光學(xué)測(cè)頭則是影像儀采集工件信息的重要來(lái)源。光學(xué)觸頭和接觸式測(cè)頭是相互補(bǔ)充的關(guān)系，并不存在巨大的優(yōu)劣之分。

下面，我們從三個(gè)方面來(lái)分析三坐標(biāo)接觸式測(cè)頭和影像儀光學(xué)測(cè)頭

一、分類(lèi)

三維光學(xué)測(cè)頭分為三種不同的分類(lèi)：點(diǎn)光源、線光源、面光源。通常根據(jù)不同的應(yīng)用場(chǎng)景選擇不同的測(cè)頭，而影像儀光學(xué)測(cè)頭的應(yīng)用主要分為表面數(shù)字化和三維測(cè)量?jī)纱箢?lèi)，二者依據(jù)生成的是點(diǎn)云還是是三角網(wǎng)格進(jìn)行區(qū)分。

二、優(yōu)點(diǎn)總結(jié)

影像儀光學(xué)測(cè)頭具有測(cè)量速度快，曲面數(shù)據(jù)易獲取；輕松測(cè)量柔軟、易碎、不可接觸、薄件、毛皮、變形細(xì)小等工件，無(wú)接觸力，不會(huì)傷害精密表面。對(duì)于一些特殊的零件，光學(xué)測(cè)頭的優(yōu)勢(shì)占據(jù)上風(fēng)，能很好彌補(bǔ)了三坐標(biāo)接觸式測(cè)頭在這一類(lèi)應(yīng)用上的不足。

說(shuō)完影像儀光學(xué)測(cè)頭相較于三坐標(biāo)接觸式測(cè)頭有哪些優(yōu)勢(shì)，接下來(lái)談?wù)劷佑|式測(cè)頭在實(shí)際應(yīng)用時(shí)的優(yōu)點(diǎn)，接觸式測(cè)頭具有測(cè)量精度高、可直接測(cè)量到工件特定的幾何特征的優(yōu)勢(shì)，如一些徑深很小、很細(xì)的孔時(shí)，光學(xué)測(cè)頭的光線無(wú)法觸及，但測(cè)針的測(cè)球部位可以去接觸被測(cè)物體進(jìn)行采點(diǎn)，；另外，一些需要L型測(cè)針的場(chǎng)合，接觸式測(cè)頭能很快的完成測(cè)量任務(wù)。

三、缺點(diǎn)總結(jié)

光學(xué)測(cè)量相對(duì)接觸式測(cè)量而言，測(cè)量精度相對(duì)不是太高， 對(duì)于有陡峭面的工件，難以獲取幾何特征，在測(cè)量中會(huì)存在測(cè)量死角；工件表面與探頭表面不是垂直，測(cè)量會(huì)存在一定誤差；工件表面的明暗程度會(huì)影響測(cè)量的精度。

選擇三坐標(biāo)接觸式測(cè)量需要逐點(diǎn)測(cè)量，速度慢測(cè)量前需做半徑補(bǔ)償，接觸力大小會(huì)影響測(cè)量值，接觸力會(huì)造成工件及探頭表面磨損影響光滑度；傾斜面測(cè)量時(shí)，不易補(bǔ)償半徑，精度難以保證；測(cè)量工件內(nèi)部時(shí)，形狀尺寸會(huì)影響測(cè)量。

三坐標(biāo)接觸式測(cè)頭與影像儀光學(xué)測(cè)頭兩者之間更多的是互相補(bǔ)充的關(guān)系，需要用戶(hù)在認(rèn)清自身應(yīng)用場(chǎng)景下選擇正確的測(cè)頭。隨著測(cè)量技術(shù)的不斷發(fā)展與完善，許多非接觸式測(cè)頭也可以測(cè)量微觀形貌，并且精度較高，復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x通過(guò)一臺(tái)設(shè)備集成光學(xué)測(cè)頭、接觸式測(cè)頭、激光測(cè)頭，一次性測(cè)量全部要素，發(fā)展趨勢(shì)不容小覷。